Метод исследования детальной динамики элементарных процессов

Кабанов Д.Б., Русин Л.Ю.

Институт энергетических проблем химической физики РАН, г.Москва

Предложен метод исследования детальной динамики элементарных процессов на примерах столкновительно индуцированной диссоциации (СИД) молекул с ионной связью и прямой трехтельной рекомбинации ионов. Метод основан на визуализации траектории, рассчитанной на поверхности потенциальной энергии, обеспечивающей адекватное описание динамического эксперимента в скрещенных молекулярных пучках. Исследования детальной динамики позволяют определить влияние каждого из кинематических параметров столкновения, например, прицельного параметра на результат столкновения в атомно-молекулярной системе. Описаны некоторые результаты исследования СИД в системах CsBr+Xe, CsCl+RbJ и рекомбинации ионов Cs+ и Br- в присутствии атома Хе.


Ключевые слова: столкновительно индуцированной диссоциации , прямая трехтельная рекомбинация ионов